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西安电子科技大学微电子专业教授、博导 ,西安芯派电子科技有限公司可靠性首席科学家。研究领域:半导体器件可靠性、制造过程统计资料控制。1966年大学毕业后留校在微电子专业从事教学、科研工作,至2009年退休。曾获得省部级科技进步二等奖三项、三等奖三项;获批专利6项;参与制订标准10项;出版专著、教材12本。