2012年3月26日，测试应用中心引进国内首台最高可测试2500伏IGBT、MOSFET、二极管、功率三极管等动态参数的尖端测试设备—ITC57300动态参数测试仪，进一步完善了测试应用中心实验室的测试能力。该设备由美国ITC公司设计生产，是一款高集成度功率半导体分立器件动态参数测试仪，采用测试主机+功能测试头+个性板的测试架构，最高测试电流可以达到400A，实现不同类型、同类型不同封装、同类型同封装不同参数的高精度全自动测试，是目前最具领先水平的完备可靠的动态参数测试设备，其测试标准符合美军标MIL-STD-750E，可以满足N沟道、P沟道器件、以及双极型晶体管的各项动态参数的测试要求，且具有波形分析功能。