2013年3月26日，由西安芯派电子科技有限公司、西安科技大市场、西安集成电路产业发展中心、西安高新技术企业协会主办的2013西安功率器件测试应用中心关于高可靠性功率器件及系统的测试与应用技术的研讨会正式启动，西安市有关领导、嘉宾代表发表了启动致辞，近百名来宾和同行参加了启动仪式。

研讨会为期三天，包括了主题演讲、实验室实地参观考察、厂家来宾代表分组讨论和学校讲座等内容，丰富精彩的内容安排让远道而来的嘉宾纷纷表示不虚此行，获益良多。

参加启动仪式的嘉宾（由右至左）：德国PVA应用专家Kasim Altin先生、美国ITC公司技术开发总监David J. Lohr先生、西安市集成电路产业、展中心何小宁主任、西安高新区管委会发展改革和商务局局长贾强先生、西安市科技局副局长高继平先生、西安科技大市场主任张伟国先生、西安芯派电子科技有限公司：罗义先生、西安半导体功率器件测试应用中心主任刘琛女士

主题演讲：

为了充分实现测试应用中心的平台作用，让与会来宾了解最新的业内动态和行业资讯，此次研讨会主办方特邀请了国内外知名企业的行业专家与管理高层，就半导体功率器件测试技术的发展以及技术应用和系统解决方案等相关主题进行深入交流和探讨。主题演讲现场气氛活跃，讨论热烈，与会来宾对嘉宾的演讲积极提问互动，演讲嘉宾逐一全面的解答，充分促进了企业与上下游的沟通。专家们精彩的演讲在热烈的掌声中圆满结束。

测试应用中心参观：

西安功率器件测试应用中心成立以来，多次接待同行业专家和合作院校相关专业学生参观考察，得到专家和学校的一致肯定。参加此次研讨会的省内外来宾也对测试中心充满期待。

3月27日，在西安芯派科技总经理罗义先生和测试应用中心刘琛女士的带领下，与会嘉宾参观了测试应用中心，实验室主任刘琛女士对实验室设备逐一进行了介绍，参观来宾针对中心的一些新进设备提出了技术疑问，设备专家逐一答疑解惑，并与来宾共同探讨功率器件测试的新技术。参观结束后来宾纷纷对实验室的建设成果表示肯定，对实验室未来的发展充满信心。

分组讨论及成果：

结束了3月27日上午的测试应用中心参观和技术交流，在3月27日下午，来宾和同行在轻松而热烈的氛围下进行了分组讨论，分别就器件测试、失效分析、系统测试和可靠性试验进行了深入的探讨。

器件测试讨论组有测试应用中心技术人员、半导体界同行和ITC技术总监Dave先生参加，大家对于依据ITC57300动态设备实际测试尤其MOSFET反向恢复测试项目很感兴趣，纷纷提出意见见解，讨论中解决了如何通过对相关设置（VDD,Lload，Pusle Duration，Vg）调整以提高di/dt测试条件设置，满足客户在研发阶段的极限性能测试，同时极大地扩展了器件测试实验室的测试能力。

在讨论中，Fairchild高级测试工程师Edward先生，ITC技术总监Dave先生就MIL-STD-750F中如何测试二极管 Peak dv/dt项目的标准方法、电路搭建、实验室现有设备对该方法的具体实施等问题展开热烈的讨论，并对测试模组+Labview软控的架构的实现方案进行了探讨。在失效分析讨论小组，国际知名的超声波扫描设备供应商PVA公司的Kasim Altin先生对于各电源公司，高校，封装厂商提出的在应用中的实际问题，以现场演示和理论解说结合的方式，吸引了众多技术人员的注意。 Kasim Altin先生对某大型电子公司的金属特殊封装产品所做的无损超声波测试，解决了困扰该公司多年在此类金属封装产品方面难以通过无损检测来控制缺陷的问题。系统测试小组的工程师们也与广大行业专家进行了针对性的技术交流，其中系统实验室主管朱鹏先生、系统实验室应用工程师沈杰女士等人与美国HALT/HASS应用专家Walter Wu先生讨论并初步确定了HALT/HASS实验中夹具的设计、电路板级别的夹具与电源系统级别夹具的设计区别与差异等技术问题。同时，测试中心的技术人员还与美国国际整流公司（IR）西安应用中心的工程师余名浩先生就功率器件在客户端应用中出现的新趋势、新问题、新技术进行了探讨。

关于可靠性实验，测试应用中心的工程师们和国富奇中国区销售总经理许忠良先生，以及工信部四院，电子十三所等研究机构和厂商对于可靠性环境试验标准的发展、最新技术、实际遇到的种种问题都进行了讨论与交流，尤其是对于高低温冲击试验不同模式的选择与优化提出了很好的建议，许总指出时间优化模式是在确保试验有效性的同时节省能源；正常模式是以时间为准的最常见模式；时间优化模式是对于试验样品较大情况下导致升温速率变小而设计的以温度达到相关要求开始计时的模式。不同的测试需求可以选取相对应的模式，对于行业内评估产品质量、设计可靠性试验有着极大的指导意义。

学校讲座：

西安功率器件测试应用中心秉持的理念之一是为校园内的未来半导体行业从业者提供尽可能的协助与支持，测试中心建立至今，已在学校举办过数十场的专题演讲，在西安高校产生了广泛的影响。

针对目前大学生理论知识丰富而实践能力不足的状况，受西安电子科技大学、西北工业大学和长安大学的邀请，3月28日至29日，美国ITC技术总监David J. Lohr先生、德国富奇许忠良先生及德国PVA高级应用工程师Kasim Altin先生走进高校进行了五场关于功率循环、间歇寿命试验的应用、功率器件可靠性环境测试、针对半导体器件应用的超声波成像与分析技术最新发展的专题演讲，系列讲座从测试设备的使用和测试数据的分析入手，着重于测试理论与最新技术的结合，对相关专业学生开展了多方位的教育。 David先生引用典型测试曲线，给同学们做了详细的讲解和精辟的分析，并回答了同学提出的问题，让同学们真真切切的感受到了理论和实践相结合的重要性。

系列演讲受到了在校大学生和老师以及专业听众的欢迎和高度评价，演讲教室座无虚席。学生们在提问、讨论环节非常活跃。纷纷表示此次讲座让自己获益良多，对下次的专题讲座充满了期待。